ティーイーアイソリューションズ（株）

一般情報

顕微鏡検査、分光解析などの不良解析のための分析サービスをご提供します。テストウェハを用いた基礎データ取得の他、デバイス特性の比較、信頼性データ取得など、どのようにしたら良い特性が得られるか、インテグレーションの解をご提供します。